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薄膜厚度測(cè)試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
product
產(chǎn)品分類(lèi)| 品牌 | YODP/亞歐德鵬 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,食品/農(nóng)產(chǎn)品,化工,農(nóng)林牧漁,綜合 |
薄膜厚度測(cè)試儀 塑料薄膜/薄片自動(dòng)測(cè)厚儀 型號(hào)DPCHY-CA
適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量
微電腦控制、液晶顯示
菜單式界面、PVC操作面板
接觸式測(cè)量
測(cè)頭自動(dòng)升降
自動(dòng)進(jìn)樣
手動(dòng)、自動(dòng)雙重測(cè)量模式
數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)
顯示大值、小值、平均值和統(tǒng)計(jì)偏差
可設(shè)進(jìn)樣步距、測(cè)量點(diǎn)數(shù)、進(jìn)樣速度等參數(shù)
標(biāo)準(zhǔn)接觸面積、測(cè)量壓力(非標(biāo)可選)
顯示大值、小值、平均值和統(tǒng)計(jì)偏差
標(biāo)準(zhǔn)量塊標(biāo)定
RS232接口
網(wǎng)絡(luò)傳輸接口支持局域網(wǎng)數(shù)據(jù)集中管理與互聯(lián)網(wǎng)信息傳輸
薄膜厚度測(cè)試儀器技術(shù)指標(biāo)
測(cè)量范圍:0~2mm;0~6mm,12mm(可選)
分 辨 率:0.1μm
測(cè)量壓力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(紙張)
接觸面積:50mm2(薄膜);200mm2(紙張)
注:薄膜、紙張任選一種;非標(biāo)可定制
進(jìn)樣步距:0~1000mm
進(jìn)樣速度:0.1~99.9mm/s
電 源:AC 220V 50Hz
外形尺寸:461mm(L)×334mm(B)×357mm(H)
凈 重:32kg
可見(jiàn)分光光度計(jì)/分光光度計(jì) 型號(hào):DP-WFJ7200/7200
儀器型號(hào) DP-WFJ7200/7200
光學(xué)系統(tǒng) 單光束,1200條/毫米衍射光柵
波長(zhǎng)范圍 325-1000nm
波長(zhǎng)精度 ±2nm
波長(zhǎng)重復(fù)性 1nm
光度范圍 0-125%T, -0.097-1.999A, 0-1999C(0-1999F)
光度精度 ±0.8%T
雜散光 ≤0.5%T在360nm處
帶寬 5nm
穩(wěn)定性 ±0.004A/h在500nm處
顯示 LED數(shù)碼管
數(shù)據(jù)輸出 串行口
打印機(jī)接口 并行口
外形尺寸 470×400×140(mm)
重量 9.5kg
表面式溫度傳感器 溫度傳感器 DP-GWP200-M
指標(biāo)名稱(chēng) | 性能指標(biāo) |
被測(cè)介質(zhì) | 固體表面 |
量 程 | 0~200℃ |
感溫原件 | PT100 |
供電電源 | 無(wú)源式 |
輸出信號(hào) | 電阻信號(hào) |
精 度 | A組、B組 |
環(huán)境溫度 | -20~65℃ |
相對(duì)濕度 | 0~90% RH |
固定方式 | M6螺紋固定/磁鐵式 |
產(chǎn)品材料 | 1Cr18Nⅰ9tⅰ |
引線方式 | Φ3.6mm電纜引出 |
靜態(tài)磁滯回線測(cè)量?jī)x 回線測(cè)量?jī)x 型號(hào):DP-TF-CIA
采用靜態(tài)法測(cè)量鐵磁材料的特性參數(shù)。適合教學(xué)。
特點(diǎn):樣品外置,方便更換比較。具有電腦接口;功能齊備的多媒體教學(xué)演示和數(shù)據(jù)處理軟件,方便教師開(kāi)設(shè)實(shí)驗(yàn)。
1.磁化電流: 0 - ±3A
2.線圈匝數(shù) > 40
3.樣品外置,方便更換。
4.設(shè)有過(guò)熱保護(hù)裝置。
5.可以描繪 磁滯回線、初始磁化曲線、基本磁化曲線 等
6.內(nèi)含微處理器,程控放大器,
7.通過(guò)串口與計(jì)算機(jī)連接,實(shí)時(shí)記錄數(shù)據(jù)和曲線;
8.軟件功能豐富,含原理演示、圖形記錄、數(shù)據(jù)處理等。
9.程控放大倍數(shù):1 – 1000
10.磁化電流:0 – 3A;
11.測(cè)量精度:12位
變溫霍爾效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀 型號(hào):DP-HT-648
霍爾效應(yīng)的測(cè)量是開(kāi)展半導(dǎo)體研究的重要方法。本機(jī)利用計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)采集和處理在80K-400K溫度范圍內(nèi)對(duì)霍爾系數(shù)和電導(dǎo)率的聯(lián)合測(cè)量,進(jìn)行半導(dǎo)體導(dǎo)電機(jī)制及散射機(jī)制的研究,并可確定半導(dǎo)體的一些基本參數(shù),如導(dǎo)電類(lèi)型、載流子濃度、遷移率、禁帶寬度以及雜質(zhì)電離能等。
主要技術(shù)指標(biāo)
1.電磁鐵 0-300mT連續(xù)可調(diào)
2. 勵(lì)磁電源 0-5A連續(xù)可調(diào) 可自動(dòng)換向 穩(wěn)定性﹤±0.1%
3. 數(shù)字特斯拉計(jì) 0-2000mT 三位半數(shù)字顯示 分辨率0.001
4. 恒流源輸出 1mA 穩(wěn)定性±0.1%
5. 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)霍爾電壓測(cè)量小分辨率1uV
6. 溫度變化測(cè)量范圍 80-400K
7. 整套儀器由電磁鐵系統(tǒng)、電源控制系統(tǒng)機(jī)箱、測(cè)量系統(tǒng)主機(jī)、恒溫器四部分組成
8. 探頭樣品采用單晶鍺片